LIV测试用数字源表-普赛斯仪表

通常半导体器件特性参数测试需要几台仪器完成，如：数字表,电压源,电流源等。仪器数目增多,必然会引起测试速度下降,从而影响产量。而普赛斯仪表S系列数字源表配合相应软件编程,可简化测试系统,提高测试速度和质量,这对自动化半导体器件生产测试是非常重要的。

武汉普赛斯仪表是普赛斯电子的全资子公司，致力于半导体器件的测试仪表和测试方案的研发、生产与销售，为客户提供模块化硬件、驱动程序和算法软件组合，帮助用户构建自定义解决方案。为半导体行业提供可扩展的方案、应对设备、设计与低成本的挑战。

国内率先推出的基于源表（源测单元）的两大系列产品：台式源表系列、源表单元系列，在光通信CHIP和有源光器件厂家广泛使用。

普赛斯源表功能：提供四象限电压或电流，并同步测量电流和电压；可以实现电源、万用表、电子负载、电源/测量组合功能；

用途：提供和测量电压和/或电流，广泛应用于各种电器特性参数测试中，如IV扫描；

普赛斯源表优势：四象限工作，源和负载；电压及电流范围广，电流100pA~1A，电压0.3mV~300V，准确度为0.1%；5寸触摸显示屏图形化操作，内置强大的功能软件，加速用户完成测试；支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；

额外功能（软件实现的）：二极管IV扫描及参数分析、三极管IV扫描及参数分析、LIV测试系统、太阳能电池放电测试系统、电池充放电循环系统等；

普赛斯源表应用领域：分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等；能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等；传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等；有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等；纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等；

普赛斯源表应用方案：二极管IV测试、激光二极管LIV测试、三极管MOS管IV测试、APD管IV测试、太阳能电池板特性参数测试、电池充放电特性参数测试、电化学循环伏安测试；

普赛斯源表替代方案：吉时利2400、是德B2901

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